Momentum Press

Secondary Ion Mass Spectrometry: Applications for Depth Profiling and Surface Characterization, Paperback/Fred Stevie

402,99 lei

Preț actualizat: 2026-06-12

Despre acest produs

Comandă Secondary Ion Mass Spectrometry: Applications for Depth Profiling and Surface Characterization, Paperback/Fred Stevie de la Momentum Press prin partenerul elefant.ro, la 402,99 lei. Face parte din categoria Cărți, Muzică & Filme de pe PretulVerde.ro, cu preț urmărit și actualizat periodic.

Description This book was written to explain a technique that requires an understanding of many details in order to properly obtain and interpret the data obtained.

Verifică prețul de 402,99 lei și disponibilitatea direct la comerciant înainte de comandă.

De ce să alegi acest produs

La 402,99 lei, Secondary Ion Mass Spectrometry: Applications for Depth Profiling and Surface Characterization, Paperback/Fred Stevie este o opțiune din segmentul superior.

Merită să vezi prețul alături de alte oferte din Foreign Books și să citești specificațiile complete înainte de comandă.

Întrebări frecvente

Cât costă Secondary Ion Mass Spectrometry: Applications for Depth Profiling and Surface Characterization, Paperback/Fred Stevie?

Secondary Ion Mass Spectrometry: Applications for Depth Profiling and Surface Characterization, Paperback/Fred Stevie costă 402,99 lei, la elefant.ro. Prețul este actualizat periodic pe PretulVerde.ro.

De unde pot cumpăra Secondary Ion Mass Spectrometry: Applications for Depth Profiling and Surface Characterization, Paperback/Fred Stevie?

Îl găsești la elefant.ro, prin PretulVerde.ro - îți arătăm prețul curent și te ducem direct la ofertă.

În ce categorie se încadrează?

Secondary Ion Mass Spectrometry: Applications for Depth Profiling and Surface Characterization, Paperback/Fred Stevie face parte din categoria Cărți, Muzică & Filme, la Foreign Books.